多功能X光繞射儀


X-ray 多功能X光繞射儀

機型:PANalytical  X’PERT PRO

1. 45KV 40m

2. 塊材

3. 薄膜繞射

4. 高溫繞射量測

5. 微區繞射分析

6. Rocking Curve

 

樣品準備需知:

1. 試片大小:最小為0.5cm x0.5cm

2. 薄膜繞射:膜厚最薄要在150nm以上

3. 高溫繞射量測:試片不能為粉末,試片座為銅鍍Cr(鉻),要確認檢驗之樣品之熔點不能低於所要檢測之溫度,最高溫度為800℃,最高升溫速率200℃/min。

4. 微區繞射:Spot size: ≧ 200μm

 

收費標準:

1. 1500元/4hr

2. 高溫繞射加收1000元

註:上述費用均可開立收據

 

聯絡人:

儀器指導教授:李玫樺 副教授

TEL:07-6577711-3128   Fax: 07-6578444

E-MAIL:boyen@mail.isu.edu.tw

 
儀器管理員:張馨文 技術員

TEL:07-6577711-3986   Fax: 07-6578444 

E-MAIL:nddtt@mail.isu.edu.tw

儀器室地點:義守大學理工大學一樓2101教室